微针的高度测量

在使用工具显微镜的检测中，人为产生的偏差及检测耗时问题成为难以攻破的课题。能够以面为单位执行批量测量的WI系列，可使用非接触方式，无误差地快速测量狭窄范围内大量配置的针高度。

干涉式同轴 3D 位移测量仪

WI-5000 系列