粗糙度测量 / 激光显微镜

仅需在设置好样品后单击即可自动测量的激光显微镜。具有1台即可覆盖光学显微镜到SEM领域的观察力、瞬间准确扫描各种目标物形状的测量力、丰富的分析工具等特点，可满足观察、测量、分析等各种需求。

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产品阵容

VK-X4000 系列 - 形状测量激光显微系统

全新 形状测量激光显微系统 VK-X4000 系列

形状测量激光显微系统VK-X4000 系列采用了“三重扫描方式”，灵活运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，对各种目标物进行高精度的测量和分析。此外，对于镜面体、透明体等测量难度高的材料也能进行高速、高精度、大范围的测量。它还新增了多点测量功能，能轻松地对多个目标物进行全自动多点测量。无需复杂的设定即可自动化多点测量。通过减少作业时间和增加测量采样点数，提升研发的客观评估和可靠性。

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