薄膜端部的凹陷深度测量

检测薄膜拉伸后端面附近的变形情况。LJ-X 系列可进行超高精细、高灵敏度测量，对透明薄膜的形状也能正确测量。此外，其所采用的 2D 激光方式无需移动传感器探头，就能实现连续测量。

2D/3D 线激光测量仪

LJ-X8000 系列