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仅需在设置好样品后单击即可自动测量的激光显微镜。具有1台即可覆盖光学显微镜到SEM领域的观察力、瞬间准确扫描各种目标物形状的测量力、丰富的分析工具等特点,可满足观察、测量、分析等各种需求。
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采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。
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从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
非接触瞬间扫描形状
希望了解的表面“差异”一目了然
可根据样品工件的材料、形状和测量范围,选择激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,进行高精度测量。
形状测量激光显微系统
VK-X 系列
停产
彩色 3D 激光扫描显微镜
VK-8700/9700 GenerationII 系列
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