粗糙度测量 / 激光显微镜
仅需在设置好样品后单击即可自动测量的激光显微镜。具有1台即可覆盖光学显微镜到SEM领域的观察力、瞬间准确扫描各种目标物形状的测量力、丰富的分析工具等特点,可满足观察、测量、分析等各种需求。
产品阵容
产品特性
激光显微系统的基本特点
观察
从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
- 42 至 28800 倍
- 无需对焦
- 适用于多种样品
测量
非接触瞬间扫描形状
- 不会损伤目标物
- 纳米级别也可准确测量
- 透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
希望了解的表面“差异”一目了然
- 定量化微小形状
- 轻松比较多个样品
- 粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题
可根据样品工件的材料、形状和测量范围,选择激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,进行高精度测量。