三坐标 / 3D扫描仪 / 轮廓仪 / 激光跟踪仪
适用于各种行业和应用的离线3D测量系统。
产品阵容
XM 系列是可在各种地点实现三坐标测量的创新型三坐标测量仪。从手掌大小的工件到大型加工品，只需用探头接触即可进行高精度测量。还可实现在桌面上测量小型工件、测量地板上的大型目标物以及固定在加工机上进行在机测量。
大范围三坐标测量仪“WM系列”是一款可轻松测量产品尺寸和形状的测量仪。可由接触式测量尺寸，由激光扫描测量形状。通过无线探头进行自由的操作，可轻松测量大范围。无需喷雾或贴纸等预处理，可实现高速、高精度的扫描。
3D 轮廓测量仪“VR-6000 系列”以非接触方式直接实现粗糙度仪、形状轮廓测量仪的测量。3D 轮廓测量仪以 0.1 µm 分辨率捕捉触针式无法充分测量的面整体形状。还新搭载了电动旋转单元。在旋转样品的同时进行测量，能够消除死角，再现真实的截面形状。可简单测量壁厚及凹陷尺寸。另外，采用 HDR 扫描算法提升了扫描能力，即使是光学轮廓测量仪不擅长的有光泽的目标物或材料反光弱的目标物，也能瞬间判断理想条件，正确测量形状。与传统机型*相比，能够将动态范围最大扩大到 1000 倍进行扫描。*与本公司VR-5000 产品的比较
高精度三维扫描测量仪“VL-700 系列”配备了全自动CAD 转换功能。全自动执行从扫描到STEP 文件输出的整个流程。无需专属转换软件即可一站式输出CAD 软件可使用的格式，有助于缩短作业工序。此外，还配备了新开发的高分辨率投受光镜头——WDR CMOS 传感器。实现上一代2 倍*的检测能力。可以将目标物直接按照所展现的外观扫描，将形状和颜色转化为3D 数据。此外，可以基于CAD 数据进行比较测量。更新比较拟合算法，实现稳定的比较测量。还可基于CAD 坐标值进行比较测量。*与本公司VL-500 产品的比较
采用了三重扫描方式，运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的细微粗糙度，以及镜面体，透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米/微米/毫米一台完成测量。
